충남대학교 공동실험실습관

커뮤니티

공지사항
세계적인 공동실험실습관 21세기의 주인공
홈 〉공실관소개 〉공지사항
주사전자현미경의 EDS-EBSD 세미나
제목 주사전자현미경의 EDS-EBSD 세미나
작성자 관리자 등록일 2017.01.31 조회수 1560

제1703호 2017.01.31

 

OXFORD INSTURMENTS EDS/EBSD SEMINAR

 

 

Oxford Instruments의 EDS/EBSD 사용자분들을 모시고 충남대학교 공동실험실습관에서 세미나를 개최 합니다.
기본 이론을 비롯하여 다양한 어플리케이션, 현장 응용 사례들을 살펴보고 나아가 실습을 통해 장비 활용에 보다 실질적인 도움을 드리고자 하오니 많은 관심과 참여 부탁드립니다.

 

 

■ 교육 상세

2월 22일 수요일 09:00-17:00(실습포함)

 

● 교육장소 : 충남대학교 공동실험실습관 시청각실(107호)
●
교육인원 : 최대 70명 (실습참가 20명 별도접수)
●
참 가 비 : 무료 (교재 및 점심 제공)
●
교육내용 : 하단 Agenda 참조
● 접수기한 : 2월1일 ~ 2월17일까지 선착순 접수

 

 
 

 

■ 접수 방법

 

 

이름/소속(회사명, 부서 또는 학과)/연락처/메일 기재후 메일접수
(Gayeon.jung@oxinst.com)

※ 오후 장비 분석실 실습 참가 인원은 20명으로 제한 됩니다.
실습을 원하시거나 특정 시료의 분석을 원하실 경우 반드시 사전에 별도 요청 주시기 바랍니다.

관련문의 : 옥스포드인스트루먼츠 정가연 차장
(gayeon.jung@oxinst.com/02-2047-6462)

 

 

■ 교육 장비

 

 

● EDS (AZtecADV / X-MaxN50)
○ LN2 Free silicon Drift Detector
○ Sensor active area: 50mm2
○ Resolution: Mn Ka 127eV, F Ka 64eV, C Ka 56eV
○ Application: Point&ID, LineScan, TruMap etc.

● EBSD (AZtecHKL ADV / NordlysNano)

○ The highest sensitivity at fast speed
○ Uses the full 1344x1024 CCD array to digitize EBSPs at the highest resolution
○ Designed for data acquisition at low kV and low beam current

Oxford Instruments 홈페이지 둘러보기

 
 

 

■ Agenda

 

 

■ 교육관련 자료 리뷰

EDS for SEM and FIB

 

Principle Components of an EBSD System

 

Silicon Drift Detector - X-Max Extreme

 

EDS system with AZtecOneXT

 

Particle analysis in the SEM - AZtecFeature

 

Thin film analysis in the SEM: LayerProbe

 

EBSD - Electron Backscatter Diffraction

 

 

 
 

www.oxford-instruments.com / www.EBSD.com

대전광역시 유성구 대학로 99 충남대학교 공동실험실습관 (W9) (우)34134 Fax: 042)823-2005 E-mail : ceref@cnu.ac.kr
Tel : 042) 821-5274(계산서 및 행정), 5268(시스템 관련), 5275(분석전문상담). 각기기실: 보유기기클릭
상호 : 충남대학교공동실험실습관  사업자등록증번호 : 314-83-03234  대표 : 손정훈
Copyright (c) 2014 충남대학교 공동실험실습관. All right Reserved.
관련사이트