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<관련 동영상>
* Principle of Ellipsometry *
* CompleteEASE 매뉴얼(한국어 설명) *  - 데이타 처리프로그램(직접 사용자는 참조하세요)
 

1. J.A. Woolam M-2000 training video

2. Part1_ Fitting basics for transparent films

3. Part 2 - Transparent polymers 

4. Part 3_ Absorbing Films (B-Spline)

5. Part 4_ Modelling Absorption with Oscillators

6. Part 5_ Thickness Measurement of Metals

광학 코팅, 반도체, FPD, LED, Solar Cell 등의 부품소재에 사용되는 얇은 박막(film)의 두께(d) 및 광학상수(굴절률 n, 소광계수 k)를 측정할 수 있으며, Å ~ 수 ㎛ 단층 및 다층 박막의 두께 계측 및 박막 표면  2D 매핑이 가능한 장비이다.

Model : M-2000D(J.A.Woollam)

1. Light Source : QTH(Quartz-Tungsten-Halogen)/ Deuterium

2. Detector : CCD array (UV/VIS)

3. Angle Range : 45°~90°

4. Spectral Range : 193 ~ 1000nm (~500 Wavelengths)

5. Spectral Resolution : 1.6nm pixel resolution (UV/VIS)

6. 300um beam focusing

7. Automated Sample Translator(200mm*200mm)

유기/무기 나노박막, 광기능성 소재, 디스플레이, 태양전지 등