원리 및 특성
고출력 박막용 엑스선 회절분석기는 높은 출력을 이용하여 일반 코팅층 및 다층막 시료에 대한 분석뿐만 아니라 반도체 극박막에 대한 유효한 분석이 가능하며, 고분해능 분석(HR-XRD)에도 대응이 가능하다.
규격
1. X-ray output : 9kW
2. X-ray target : Cu target
3. Goniometer radius : 300mm
4. Slit system : automatic variable slit
5. Anti-scattering unit ; Scattering protector
6. Hybrid Detector (1D & 0D)
1) Active area : 384mm²
2) No. of channel : 256 ch.
적용(응용)분야
목적하는 시료에 엑스선을 조사하여 시료로부터 회절된 엑스선을 검출하여 시료의 결정구조 정보를 분석 가능한 기기로, 하기와 같은 분석에 활용된다.
1. 박막 시료에 대한 결정상 및 함유량 분석
2. 반사도(XRR, X-Ray Reflectivity) 측정에 의한 박막층 피팅
3. 로킹커브(Rocking Curve) 측정에 의한 결정도 평가
4. 웨이퍼(Wafer) 및 에티막(Epi-layer)에 대한 tilt-angle 분석
5. 다층막 분석