교육 기기

투과전자현미경(TEM)

교육담당

이유진 연구원

교육개요

TEM과 FIB의 원리 및 기초 기기운용

비고

기기 시연 및 실습은 진행하지 않습니다. (교육 인원 : 선착순 20명)

일정

교육내용

장소

1월 15일 (월)

14:00~16:00

1. 투과전자현미경(TEM)의 기초 이론 및 특성

2. 이온빔주사전자현미경(FIB)의 기초 이론 및 특성

3. 전처리 및 다양한 샘플링 방법 소개

4. TEM과 FIB 응용

505호

세미나실

1. 시료의 전처리 방법 및 조건 소개

2. TEM, FIB 장비 설명

3. 질의응답

B06, 106호

(실험실 견학)

교육 문의

이유진 연구원, lyj88@cnu.ac.kr 042-821-7942

※ 본 교육은 TEM, FIB 기초 입문자를 대상으로 진행합니다.

※ BIO-TEM과 관련된 내용은 교육에 포함되지 않습니다.